Lot Number:		17
	Lot Identifier:		A2D35000N5
	Received at IC:		Dec 2003
	Wafer Number	Wafer Identifier	Number of good die	Yield (%)	Location	Comments	QA test plans
	1	KZMGAFT	304	84	Hybrid SA	SCR
	2	KUMG4NT	308	86	Hybrid SA	SCR
	3	KRMG58T	267	74	Hybrid SA	SCR
	4	KQMG4ST	301	84	Hybrid SA	SCR
	5	K7MG5ST	257	71	Hybrid SA	SCR
	6	KIMG5GT	293	81	Hybrid SA	SCR
	7	KVMG54T	313	87	Hybrid SA	SCR
	8	KDMG7KT	317	88	Hybrid SA	SCR
	9	KPMG4TT	301	84	Hybrid SA	SCR
	10	KFMG5JT	300	83	Hybrid SA	SCR
	11	KKMG4XT	266	74	Hybrid SA	SCR
	12	KKMG5ET	317	88	Hybrid SA	SCR
	13	KLMG8UT	223	62	Hybrid SA	SCR
	14	KNMG8ST	300	83	Hybrid SA	SCR
	15	KNMG4UT	295	82	Hybrid SA	SCR	1 - > IC
	16	KNMG5BT	294	82	Hybrid SA	SCR
	17	KWMG53T	267	74	Hybrid SA	SCR
	18	K1MG9WT	273	76	Hybrid SA	SCR
	19	KAMG5PT	317	88	Hybrid SA	SCR	1 - > Padova
	20	KLMG4WT	255	71	Hybrid SA	SCR	1 - > IC
	21	KPMG8RT	254	71	Hybrid SA	SCR
	22	KDMG5LT	310	86	Hybrid SA	SCR
	23	KJMG5FT	313	87	Hybrid SA	SCR
	24	KRMG4RT	196	54	Hybrid SA	SCR
	25	K9MG5QT	310	86	Hybrid SA	SCR	1->Padova
	Total good die:			7151
	Average yield for this lot:			79
	Highest yield:			88
	Lowest yield:			54
						SCR - expected 75
						chips - only 74 returned