Lot Number:		18
	Lot Identifier:		A2D45000N5
	Received at IC:		Dec 2003
	Wafer Number	Wafer Identifier	Number of good die	Yield (%)	Location	Comments	QA test plans
	1	DEKSZZT	275	76	Hybrid SA	SCR
	2	D5KSZ8T	335	93	Hybrid SA	SCR
	3	D4KSZ9T	326	91	Hybrid SA	SCR
	4	D3KSVCT	325	90	Hybrid SA	SCR
	5	D2KSWVT	314	87	Hybrid SA	SCR
	6	DVKSS4T	322	89	Hybrid SA	SCR	1->IC
	7	DXKSS2T	308	86	Hybrid SA	SCR
	8	DZKSS0T	328	91	Hybrid SA	SCR
	9	DYKSS1T	326	91	Hybrid SA	SCR
	10	DKKSRXT	328	91	Hybrid SA	SCR
	11	DLKSRWT	321	89	Hybrid SA	SCR
	12	DMKSRVT	323	90	Hybrid SA	SCR
	13	DKKSQFT	300	83	Hybrid SA	SCR
	14	DTKSS6T	330	92	Hybrid SA	SCR
	15	DUKSW3T	313	87	Hybrid SA	SCR
	16	DNKTU9T	308	86	Hybrid SA	SCR
	17	DUKSVLT	335	93	Hybrid SA	SCR
	18	DSKSVNT	323	90	Hybrid SA	SCR
	19	D3KSZAT	313	87	Hybrid SA	SCR	1->Padova
	20	D3KSWUT	315	88	Hybrid SA	SCR	1->IC
	21	DMKSY9T	323	90	Hybrid SA	SCR	1->Padova
	22	DYKSZFT	307	85	Hybrid SA	SCR
	23	DYKTVGT	319	89	Hybrid SA	SCR
	Total good die:			7317
	Average yield for this lot:			88
	Highest yield:			93
	Lowest yield:			76
						SCR - 69 chips returned